測(cè)試探針型號(hào)多，選型適配有妙招

在電子測(cè)試領(lǐng)域，測(cè)試探針是不可或缺的關(guān)鍵部件。然而，面對(duì)市場(chǎng)上琳瑯滿目的測(cè)試探針型號(hào)，許多人常常感到無(wú)從下手，不知道如何選擇最適合自己需求的產(chǎn)品。本文將為您詳細(xì)介紹測(cè)試探針的選型適配方法，幫助您輕松應(yīng)對(duì)這一難題。

一、了解測(cè)試探針的類型

測(cè)試探針的類型豐富多樣，常見(jiàn)的有ICT探針、BGA雙頭探針、高頻探針、大電流探針、開(kāi)關(guān)探針等。不同類型的探針適用于不同的測(cè)試場(chǎng)景和需求。例如，ICT探針主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試，是目前應(yīng)用較為廣泛的一種探針；BGA雙頭探針則專門用于BGA封裝測(cè)試；高頻探針適用于測(cè)試高頻信號(hào)；大電流探針能夠承載較大的電流，適用于需要大電流測(cè)試的場(chǎng)景；開(kāi)關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流，適用于特定的電路測(cè)試需求。在選型之前，首先要明確自己的測(cè)試目的和需求，從而確定所需探針的類型。

二、關(guān)注關(guān)鍵技術(shù)參數(shù) 

1. 接觸電阻：接觸電阻是衡量探針性能的重要指標(biāo)之一。較低的接觸電阻可以確保信號(hào)傳輸?shù)姆€(wěn)定性和準(zhǔn)確性，減少信號(hào)衰減和干擾。在選擇探針時(shí)，應(yīng)盡量選擇接觸電阻小的產(chǎn)品。

2. 插入力：插入力是指探針插入被測(cè)物時(shí)所需的力。插入力過(guò)大可能會(huì)損壞被測(cè)物，插入力過(guò)小則可能導(dǎo)致接觸不良。因此，需要根據(jù)被測(cè)物的特性選擇合適插入力的探針。

3. 耐用性：耐用性關(guān)系到探針的使用壽命。頻繁的測(cè)試操作可能會(huì)使探針磨損，選擇耐用性好的探針可以降低更換成本，提高測(cè)試效率。探針的耐用性與材料、制造工藝等因素有關(guān)。

4. 工作頻率：如果需要測(cè)試高頻信號(hào)，就需要選擇工作頻率能夠滿足要求的高頻探針。普通探針適用于對(duì)信號(hào)衰減不敏感的測(cè)試環(huán)境，而同軸探針類似于同軸線，用于對(duì)測(cè)試頻率較為敏感的測(cè)試環(huán)境。

5. 電流承載能力：對(duì)于需要通過(guò)較大電流的測(cè)試，必須選擇電流承載能力符合要求的大電流探針。如420大電流探針，在選擇時(shí)除了考慮頭部直徑、最大電流等參數(shù)外，還需考慮接觸電阻、行程、彈簧彈力等因素。

三、考慮被測(cè)物特性

1. 尺寸和形狀：確保探針的尺寸和形狀與被測(cè)物的測(cè)試點(diǎn)相匹配。例如，對(duì)于焊點(diǎn)較小的測(cè)試點(diǎn)，可以選擇尖頭或者三面錐形的探針頭型；對(duì)于凸?fàn)钇狡谋粶y(cè)點(diǎn)，尖頭探針能夠精確接觸；對(duì)于凹狀的被測(cè)點(diǎn)，可能需要使用九爪頭或三針頭探針 。

2. 引腳間距：如果被測(cè)物的引腳間距較小，需要選擇針身較細(xì)、能夠適應(yīng)小間距的探針，以防止探針與針套之間接觸而短路。