[P50探針系列]測試探針P50-F

產品名稱：P50-F、PA50-F
所屬分類：測試探針
產品簡介：測試探針外徑為0.68mm，頂針總長為16.55mm測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
產品介紹（產品概述）:
針管:磷銅管鍍金
彈簧：不銹鋼線
針桿：鈹銅或SK4鍍金或銠
套管：磷銅鍍金‘
鉆孔尺寸：0.90mm
額定電流：3安培
接觸彈力：75g
訂購熱線：400-183-6682

2023-03-01 http://m.yinhe630.com/Products/ceshitanzhenP50-F.html

[P75探針系列]測試探針P75-LM2

產品名稱：P75-LM2、PA75-LM2
所屬分類：測試探針
產品簡介：測試探針外徑W為1.02mm，頂針總長為16.55mm測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
產品介紹（產品概述）:
針管:磷銅管鍍金
彈簧：不銹鋼線
針桿：鈹銅或SK4鍍金或銠
套管：磷銅鍍金‘
鉆孔尺寸：1.4mm
額定電流：3安培
接觸電阻：50毫歐姆
接觸彈力：100g
訂購熱線：400-183-6682

2022-03-09 http://m.yinhe630.com/Products/ceshitanzhenP75-LM2.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針058-UJ-5.7L

產品型號：058-UJ-5.7L
產品頭型：探針外徑為0.58mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為爪頭及圓頭
所屬分類：雙頭探針
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-31 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針058-UB-5.7L

產品型號：058-UB-5.7L
產品頭型：探針外徑為0.58mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為爪頭及尖頭
所屬分類：雙頭探針
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-31 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針058-JU-5.7L

產品型號：058-JU-5.7L
產品頭型：探針外徑為0.58mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為爪頭及圓頭
所屬分類：雙頭探針
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-31 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針058-JB-5.7L

產品型號：058-JB-5.7L
產品頭型：探針外徑為0.58mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為圓 頭及尖頭
所屬分類：雙頭探針
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-31 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針058-BU-8.8L

產品型號：058-BU-8.8L
產品頭型：探針外徑為0.58mm，總長度為8.8mm、針的兩端的頭型為爪頭及尖頭
所屬分類：雙頭探針
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-31 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針058-BU-6.3L

產品型號：058-BU-6.3L
產品頭型：探針外徑為0.58mm，總長度為6.3mm、針的兩端的頭型為Z爪頭及尖頭
所屬分類：雙頭探針
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-31 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針038-JB-5.7L

產品型號：038-JB-5.7L
產品頭型：探針外徑為0.38mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為圓頭及尖頭
所屬分類：雙頭探針
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-29 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen038-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針 038-BB-5.7L

產品型號：038-BB-5.7L
產品頭型：探針外徑為0.38mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型均為尖頭
所屬分類：雙頭探針
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-29 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen038-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針 031-UU-5.7L

產品型號：031-UU-5.7L
產品頭型：探針外徑為0.31mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型均為爪頭
所屬分類：雙頭探針
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-29 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen031-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針031-JJ-5.7L

產品型號：031-JJ-5.7L
產品頭型：探針外徑為0.31mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型均為圓頭
所屬分類：雙頭探針
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-28 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen031-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針031-BU-5.7L

產品型號：031-BU-5.7L
產品頭型：探針外徑為0.31mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為 尖頭、爪頭
所屬分類：雙頭探針
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-28 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen031-.html

[BGA雙頭探針]雙頭探針031-BF-5.7L

產品型號：031-BF-5.7L
所屬分類：雙頭探針
產品頭型：探針外徑為0.31mm，總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為 尖頭、爪頭
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
產品介紹：針軸兩端采用高碳鋼的材質，防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲；針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

2019-05-28 http://m.yinhe630.com/Products/shuangtoutanzhen031-.html

[P50探針系列]測試探針P50-E

產品名稱：P50-E、PA50-E
所屬分類：測試探針
產品簡介：測試探針外徑為0.68mm，頂針總長為16.55mm，測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
產品介紹（產品概述）:
針管:磷銅管鍍金
彈簧：不銹鋼線
針桿：鈹銅或SK4鍍金或銠
套管：磷銅鍍金‘
鉆孔尺寸：0.90mm
額定電流：3安培
接觸彈力：75g
訂購熱線：400-183-6682

2019-03-29 http://m.yinhe630.com/Products/ceshitanzhenP50-E.html

[P50探針系列]測試探針P50-B

產品名稱：P50-B、PA50-B
所屬分類：測試探針
產品簡介：測試探針外徑為0.68mm ，總長度為16.55mm，測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
產品介紹（產品概述）:
針管:磷銅管鍍金
彈簧：不銹鋼線
針桿：鈹銅或SK4鍍金或銠
套管：磷銅鍍金‘
鉆孔尺寸：0.90mm
額定電流：3安培
接觸彈力：75g
訂購熱線：400-183-6682

2019-03-29 http://m.yinhe630.com/Products/ceshitanzhenP50-B.html

[P50探針系列]測試探針P50-A

產品名稱：P50-A、PA50-A....
所屬分類：測試探針
產品簡介：針的外徑是0.68mm,總長度為16.5mm，測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
產品介紹（產品概述）:
針管:磷銅管鍍金
彈簧：不銹鋼線
針桿：鈹銅或SK4鍍金或銠
套管：磷銅鍍金‘
鉆孔尺寸：0.90mm
額定電流：3安培
接觸彈力：75g
訂購熱線：400-183-6682

2019-03-29 http://m.yinhe630.com/Products/ceshitanzhenP50-A.html

[P11探針系列]測試探針P11-Q2

產品名稱：PA11-Q2、P11-Q2、
所屬分類：測試探針
產品簡介：大四爪頭探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、鍍金探針、ICT測試針、測試架探針
訂購熱線：400-183-6682
產品介紹（產品概述）
針管:磷銅管鍍金
彈簧：不銹鋼線
套管：黃銅管鍍金
鉆孔尺寸：1.40mm
額定電流：3安培
接觸電阻：50毫歐姆
接觸彈力：120g

2019-03-08 http://m.yinhe630.com/Products/ceshitanzhenP11-Q2.html