測試探針按結構如何分類

　　測試探針按結構如何分類？從結構來看，常見的探針類型主要包括彈性探針、懸臂式探針和垂直式探針。

　　彈性探針

　　彈性探針由螺旋彈簧兩端套接在上下柱栓上，螺旋彈簧中間部分緊密纏繞(防止高頻信號產生附加電感和附件電阻)，兩端部分稀疏纏繞(可形變減少彈簧剛度對測試件的壓強)，檢測集成電路時，信號從下柱栓向上形成導電路徑。

　　懸臂式探針

　　懸臂式探針為借由橫向懸臂提供探針針部在接觸待測半導體產品時適當的縱向位移，以避免探針針部施加于待測半導體產品的針壓過大。

　　垂直式探針

　　垂直式探針可對應高密度信號接點的待測半導體產品的細間距排列，并借由針體本身的彈性變形提供針尖在接觸待測半導體產品所需的縱向位移。

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